测量平面是指
A、样品表面法线ON与所测晶面的法线OA构成的平面；
B、入射线、所测晶面的法线OA和衍射线构成的平面；
C、样品表面法线ON与入射线构成的平面；
D、衍射线、所测晶面的法线OA和衍射线构成的平面。