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材料研究方法
第8教学单元 第8章 扫描电子显微镜及电子探针
题目详情
简答题
高角环形暗场像的像衬度是
A、原子序数衬度像（或Z衬度像）
B、衍衬衬度
C、振幅衬度
D、质厚衬度
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简答题
SEM扫描线圈的作用是 A、使电子束发生聚焦，并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描 B、使电子束发生发散，并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描 C、使电子束发生衍射，并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描 D、使电子束发生偏转，并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描
简答题
电子束作用物质的区域 A、轻元素是倒梨状，重元素是半球状 B、轻元素是半球状，重元素是倒梨状 C、轻元素、重元素均是倒梨状 D、轻元素、重元素均是半球状
简答题
能谱仪是通过 对不同能量的特征X射线进行展谱的。 A、Si(Li)半导体晶体 B、分光晶体 C、计数器 D、栅缝
简答题
扫描电镜与电子探针结合可实现对试样的 A、形貌、成分和结构的综合分析 B、成分和结构的综合分析 C、形貌和结构的综合分析 D、成分和形貌的综合分析
简答题
STEM用电子束在样品的表面扫描进行微观形貌分析时，探测器置于 A、试样左上方，接受背散射电子束流荧光成像 B、试样下方，接受透射电子束流荧光成像 C、试样右上方，接受背散射电子束流荧光成像 D、试样正上方，接受反射电子束流荧光成像
简答题
相比于背散射电子作为调制信号成像时的分辨率，二次电子的分辨率 A、高 B、低 C、不具可比性 D、有可比性，但需附加一些条件。
多选题
SEM随着放大倍数的提高，电子束直径（）A、变细，强度增强B、变粗，强度减弱C、不变D、变细，强度减弱
多选题
SEM的试样要求（）A、导电B、绝缘C、表面光滑D、表面粗糙
简答题
电子探针对试样成分 A、只能定性分析 B、只能定量分析 C、既能定性分析又能定量分析 D、既不能定性分析，也不能定量
材料研究方法
章节列表
第1教学单元 第1章 晶体学基础
10
第2教学单元 第2章 X射线的物理基础
10
第3教学单元 第3章 X射线的衍射原理
10
第4教学单元 第4章 X射线的多晶衍射分析及其应用
10
第5教学单元 第5章 电子显微分析基础
10
第10教学单元 第10章 热分析技术
10
第6教学单元 第6章 透射电子显微镜
10
第12教学单元 光谱分析
9
第7教学单元 第7章 薄晶体的高分辨像
10
第13单元 原子探针显微分析
10
第8教学单元 第8章 扫描电子显微镜及电子探针
10
第9教学单元 第9章 表面分析技术
10
第11教学单元 第11章 电子背散射衍射
9