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电子显微镜
8 扫描电子显微镜
题目详情
简答题
可以利用二次电子在晶体中的衍射现象进行晶体结构分析。
A、正确
B、错误
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简答题
利用背散射电子衍射能够进行微区织构分析、晶粒尺寸和性质分析、应变分布测定。 A、正确 B、错误
简答题
拍摄背散射电子衍射花样，需要试样高角度倾斜，以增加电子背散射衍射强度。 A、正确 B、错误
简答题
扫描电镜的二次电子是入射电子与材料中的外层自由电子相互作用后，使样品的自由电子脱离样品成为二次电子。 A、正确 B、错误
简答题
拍摄背散射电子衍射花样，需要让样品表面与入射电子束平行。 A、正确 B、错误
简答题
背散射电子衍射可以用来进行晶体结构和晶体取向分析。 A、正确 B、错误
简答题
计算机利用Hough变换来识别菊池线。 A、正确 B、错误
简答题
背散射电子像的形貌衬度和原子序数衬度可以通过两个背散射电子探头信号的加减而分开。信号相加可以排除形貌衬度，获得比较纯粹的原子序数衬度。 A、正确 B、错误
简答题
拍摄背散射电子衍射花样，需要让样品表面与入射电子束垂直。 A、正确 B、错误
简答题
背散射电子像的形貌衬度和原子序数衬度可以通过两个背散射电子探头信号的加减而分开。信号相减可以排除原子序数衬度，获得比较纯粹的形貌衬度衬度。 A、正确 B、错误
电子显微镜
章节列表
2 透射电镜概述
11
3 透射电子显微镜的基本结构与...
21
4 透射电镜的衍射花样分析
21
5 透射电子显微镜成像分析
21
6 复杂电子衍射花样
10
7 高分辨像
9
8 扫描电子显微镜
10