简答题\n SEM收集二次电子时，可以在收集器前端栅网上加上+250V的偏压，提高二次电子的收集效率。（ ）\n简答题\n DSC是差热分析，DTA是差式扫描量热分析。（ ）\n简答题\n SEM中，二次电子像（SE像）和背散射电子像（BE像）都可以利用信号的做表面形貌衬度分析。（ ）\n简答题\n 倒易矢量代表对应正空间中的晶面。（ ）\n简答题\n TEM电子衍射的基本公式是Rλ=dL。（ ）\n简答题\n 衍射强度实际是大量原子散射强度昀叠加。（ ）\n简答题\n X射线的强度，总是与管电流成正比。( )\n简答题\n 满足布拉格方程必然发生X射线衍射。（ ）\n简答题\n SEM具有高分辨率，样品制备简单，景深小的特点。（ ）\n简答题\n SEM中，二次电子产额随着入射束与试样表面法线夹角增大而增大。（ ）\n简答题\n 粉末样品不存在择优取向即织构问题\n